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IXFH56N30X3
Power MOSFET, N Channel, 300 V, 56 A, 0.021 ohm, TO-247, Through Hole
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FabricanteLITTELFUSE
Nº da peça do fabricanteIXFH56N30X3Cópia
Prazo de entrega padrão do fabricante42 semanas
Código Newark03AH0601
Gama de produtosX3-Class HiPerFET Series
Seu número de peça
52 Em Estoque
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Entrega em 1-2 semanas
a partir do armazém dos EUA
| Quantidade | Preço |
|---|---|
| 1+ | $ 13.360 |
| 10+ | $ 8.320 |
| 25+ | $ 8.110 |
| 50+ | $ 7.900 |
| 100+ | $ 7.680 |
| 250+ | $ 7.470 |
| 500+ | $ 7.320 |
Unidades por pacoteEach
Mínimo: 1
Vários: 1
$ 13.36
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Informação do produto
FabricanteLITTELFUSE
Nº da peça do fabricanteIXFH56N30X3Cópia
Prazo de entrega padrão do fabricante42 semanas
Código Newark03AH0601
Gama de produtosX3-Class HiPerFET Series
Ficha técnica
Channel TypeN Channel
Transistor PolarityN Channel
Drain Source Voltage Vds300V
Continuous Drain Current Id56A
On Resistance Rds(on)0.021ohm
Drain Source On State Resistance0.021ohm
Transistor Case StyleTO-247
Transistor MountingThrough Hole
Rds(on) Test Voltage10V
Gate Source Threshold Voltage Max4.5V
Power Dissipation320W
Power Dissipation Pd320W
No. of Pins3Pins
Operating Temperature Max150°C
Qualification-
Product RangeX3-Class HiPerFET Series
SVHCTo Be Advised
Especificações Técnicas
Channel Type
N Channel
Drain Source Voltage Vds
300V
On Resistance Rds(on)
0.021ohm
Transistor Case Style
TO-247
Rds(on) Test Voltage
10V
Power Dissipation
320W
No. of Pins
3Pins
Qualification
-
SVHC
To Be Advised
Transistor Polarity
N Channel
Continuous Drain Current Id
56A
Drain Source On State Resistance
0.021ohm
Transistor Mounting
Through Hole
Gate Source Threshold Voltage Max
4.5V
Power Dissipation Pd
320W
Operating Temperature Max
150°C
Product Range
X3-Class HiPerFET Series
Documentação técnica (2)
Alternativas para IXFH56N30X3
1 produto encontrado
Legislação e Ambiente
US ECCN:EAR99
EU ECCN:Unknown
Conformidade RoHS:Y-Ex
RoHS
Ftalatos compatíveis com RoHS:Sim
RoHS
SVHC (substâncias que suscitam elevada preocupação):To Be Advised
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Certificado de conformidade do produto
Rastreabilidade de produtos