P05SCT4018KR-EVK-001

P05SCT4018KR-EVK-001 es una tarjeta de evaluación de medio puente MOSFET de SiC de cuarta generación. Los MOSFET de SiC manejan alto voltaje y alta corriente y necesitan ser evaluados bajo diversas condiciones para determinar las condiciones operativas para optimizar el ruido EMC y la eficiencia del suministro de energía. Sin embargo, crear un entorno de evaluación apropiado no es una tarea fácil. Para resolver este problema, el proveedor ha preparado una placa de evaluación que le permite configurar fácilmente varias condiciones para evaluar las características de conmutación, de modo que pueda evaluar eficientemente los MOSFET de SiC.

• La tarjeta está diseñada con un circuito de control de compuerta óptimo para "SCT4018KR", también se puede evaluar TO-247-4L
• Fuente de alimentación única (funcionamiento +12V)
• Admite pruebas de doble pulso de hasta 150A y conmutación de hasta 500kHz
• Admite varias topologías de suministro de energía (Buck, Boost, Half-Bridge)
• Fuente de alimentación aislada con controlador de compuerta ajustable incorporado ("+" y "-") (de +12V a +25V, de -4.5V a -2V)
• Circuito de sujeción de espejo activo (controlador IC integrado)
• Circuito de fijación de sobretensión de compuerta