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KIT33662JEFEVBE
Tarjeta de Evaluación, 33662J, SAEJ2602-2, Capa Física LIN
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Disponible para pedido
Plazo de entrega estándar del fabricante: 18 semanas
| Cantidad | Precio |
|---|---|
| 1+ | $16.710 |
Precio para:Cada
Mínimo: 1
Múltiple: 1
$16.71
nota de línea
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Información del producto
FabricanteNXP
No. Parte FabricanteKIT33662JEFEVBE
No. Parte Newark75T7118
Hoja de datos técnicos
Kit de Aplicación, TipoCommunication & Networking
Subtipo de AplicaciónSistema LIN
Circuito Integrado, FabricanteNXP
Núcleo de Silicio, NumeraciónMC33662JEF
Rango de Producto-
Kit, ContenidoTarjeta de Evaluación MC33662JEF, Software
Sustancia Extremadamente Preocupante (SVHC)No SVHC (27-Jun-2024)
Resumen del producto
El KIT33662JEFEVBE es un módulo de evaluación para la capa física 33662J, LIN2.1/SAEJ2602-2, LIN. Este kit se completa con un dispositivo de producción y brinda la oportunidad de probar el dispositivo en varios casos de configuración para evaluar rápidamente estas características. Este kit también se puede utilizar para pruebas de descarga electrostática (ESD) e inyección de corriente a granel (BCI).
- Entradas de fuente de alimentación enrutadas individualmente para VDD y VBAT
- Estado del producto indicado por un LED
- Botón de activación
- Selector de modo a través de un interruptor
- Punto de prueba para cada pin
Contenido
Tarjeta de evaluación KIT33662JEFEVBE, CD MC33662.
Especificaciones técnicas
Kit de Aplicación, Tipo
Communication & Networking
Circuito Integrado, Fabricante
NXP
Rango de Producto
-
Sustancia Extremadamente Preocupante (SVHC)
No SVHC (27-Jun-2024)
Subtipo de Aplicación
Sistema LIN
Núcleo de Silicio, Numeración
MC33662JEF
Kit, Contenido
Tarjeta de Evaluación MC33662JEF, Software
Documentos técnicos (2)
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1 producto (s) encontrado (s)
Legislación y medioambiente
US ECCN:Unknown
EU ECCN:Unknown
Conforme a RoHS:Sí
RoHS
Cumplimiento de ftalatos con respecto a la restricción de sustancias peligrosas (RoHS):Sí
RoHS
Valor de sustancia extremadamente preocupante:No SVHC (27-Jun-2024)
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